在絕緣電阻測試時，在某些場合用戶需自設(shè)定儀表的測量參數(shù)，以滿足絕緣性能測試的要求。ETCR3500系列和ETCR3520系列高壓絕緣電阻測試儀提供了自設(shè)定：輸出電壓、測試時間、計算公式等多種測量參數(shù)，下面介紹自設(shè)定方法：
1、 輸出電壓和測試時間自設(shè)定：
設(shè)定方法：將儀表的檔位旋轉(zhuǎn)到VS檔，進入自設(shè)定界面，通過按下電壓顯示窗口兩側(cè)的
按鈕，選擇修改輸出電壓參數(shù)，設(shè)定范圍：40V～最高量程，步進：10V；通過按下時間顯示窗口兩側(cè)的
按鈕選擇修改測試時間參數(shù)，設(shè)定范圍：10s～60min，步進：5s。
2、 吸收比、極化指數(shù)，介質(zhì)放電指數(shù)計算公式選擇：
選擇方法：在絕緣電阻測量界面，向左滑動2次，進入計算公式選擇界面，點擊公式前的小方框即可選定計算公式。
極化指數(shù)（PI）測量
極化指數(shù)是指測試10分鐘內(nèi)的絕緣電阻與1分鐘內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。極化指數(shù)測試耗時10分鐘。當(dāng)絕緣測試時間為10分鐘或更長時，極化測試將完成并保存。在設(shè)置測量模式時，也可自選PI計算公式。
| 極化指數(shù)（PI） |
＞4 |
4～2 |
2.0～1.0 |
＜1.0 |
| 絕緣狀況 |
很好 |
良好 |
存在問題 |
不良 |
吸收比（DAR）測量
吸收比是指測試1分鐘內(nèi)的絕緣電阻與15秒內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。吸收比測試需要1分鐘完成。因此，對于所有小于1分鐘的絕緣測試，測量數(shù)據(jù)將被存儲為無效數(shù)據(jù)。當(dāng)絕緣測試時間為1分鐘或更長時，吸收比保存在測試結(jié)果中。在設(shè)置測量模式時，也可自選DAR計算公式。
| 吸收比（DAR） |
＞1.4 |
1.25～1.0 |
＜1.0 |
| 絕緣狀況 |
很好 |
良好 |
不良 |
介質(zhì)放電指數(shù)測試(DD)測量
此試驗適用于多層絕緣的診斷。是通過測定測試完成1分鐘后的放電電流值及被測物的電容值來判斷多層絕緣物體中的不良情況的好方法。一般建議500V電壓充電30分鐘，測量其電容及1分鐘后的殘余電流。在設(shè)置測量模式時，可自選DD計算公式。
| DD值判定標(biāo)準(zhǔn) |
＜2.0良好 |
2.0~4.0要注意 |
4.0~7.0不良 |
＞7.0較差 |
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